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計測分析プラットフォーム第193委員会
   
   
 

趣旨・目的

 

計測分析技術には、高度化する個別ニーズにいかにして迅速に応えるか、ビッグデータやAI技術の急速な進展をどう活用すべきかなど、喫緊の課題が多く存在しています。本委員会は、計測分析技術を提供する立場、利用する立場の関係者が一堂に会する場を設定し、「計測分析プラットフォーム」を議論することで、上記課題の解決に貢献することを目標にしています。第一ステップとして、計測分析技術を担う機器・装置(インフラ)の観点から、今後の計測分析機器を特徴づけるCPS(Cyber Physical System)型複合計測分析にフォーカスした検討を進めます。また、計測分析技術により取得される知識(コンテンツ)の観点からは、AI活用に向けて遡及性、信頼性、再現性等の付与など計測分析データの品質に関して検討し、計測分析技術の高度活用を通したものづくり産業への貢献を目指します。

   
 

研究テーマ

 
  1. (1)計測分析技術の共通基盤技術開発のためのプラットフォーム
    CPS型複合計測、統合解析、オンデマンド型機器開発環境
  2. (2)ものづくりの現場課題に対するソルーションプラットフォーム
    ファシリティのプラットフォーム、ビッグデータ環境の整備とビッグデータ解析
  3. (3)プラットフォームの実効的な社会実装に向けた研究・検討
    計測の信頼性の担保(認証システム)、計測担当人材の育成(能力認定)
    計測機器のIoT化
   
 

委 員 長

 

一村 信吾 早稲田大学研究戦略センター 教授

   
 

設 置 年 月

 

平成30年4月1日〜平成35年3月31日(第1期・5年間)

   
 

委員の構成(平成30年4月現在)

 
学界 16名 産業界 15名 委員総数 31名
 
   
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