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独立行政法人日本学術振興会
研究事業部 研究事業課 産学協力係
〒102-0083 東京都千代田区麹町5-3-1
03-3263-1728
計測分析技術には、高度化する個別ニーズにいかにして迅速に応えるか、ビッグデータやAI技術の急速な進展をどう活用すべきかなど、喫緊の課題が多く存在しています。本委員会は、計測分析技術を提供する立場、利用する立場の関係者が一堂に会する場を設定し、「計測分析プラットフォーム」を議論することで、上記課題の解決に貢献することを目標にしています。第一ステップとして、計測分析技術を担う機器・装置(インフラ)の観点から、今後の計測分析機器を特徴づけるCPS(Cyber Physical System)型複合計測分析にフォーカスした検討を進めます。また、計測分析技術により取得される知識(コンテンツ)の観点からは、AI活用に向けて遡及性、信頼性、再現性等の付与など計測分析データの品質に関して検討し、計測分析技術の高度活用を通したものづくり産業への貢献を目指します。
一村 信吾 早稲田大学研究戦略センター 教授
平成30年4月1日~令和5年3月31日(5年間)